T-UV759紫外可见分光光度计1.8nm带宽光谱仪

名    称：紫外可见分光光度计

型    号：T-UV759

品    牌：上海佑科

T-UV759紫外可见分光光度计1.8nm带宽光谱仪应用简介：

T-UV759紫外分光光度计，以全新的光学系统与电子系统设计理念，精心打造出的新一代智能化仪器。有别于传统的双光束分光光度计，该仪器采用新型的不对称分光技术，具有双光束的高稳定性，其主光束的高光通量，确保了仪器的高信号噪声比。T-UV759CRT是一款高分辨率，地杂散光，液晶屏显示的紫外可见分光光度计，可以满足众多领域的日常分析及科学研究的应用要求。

T-UV759紫外可见分光光度计1.8nm带宽光谱仪仪器特点:

1、采用1200条/mm高性能光栅。新型的光源控制系统，使仪器光源切换更快速。
2、精确的2nm带宽，使测试数据更准确。使用进口长寿命光源，减轻用户耗材的消耗。
3、特有的波长控制系统，使波长精度更高。改良的光学系统，使测试更准确。
4、采用进口的光电转换器，使仪器的灵敏度更高。
5、新型的微电脑数据处理系统。使仪器的使用更加便捷，稳定性也更好。
6、仪器采用128×64位点阵液晶显示器，可直接显示标准曲线和测试数据，主机可储存测试数据，并可选配打印机。
7、仪器可选配圆盘旋转式自动八连样品架，可靠性好，光斑居中（相比双排自动八联架），从而仪器测光精度高。

T-UV759紫外可见分光光度计1.8nm带宽光谱仪仪器参数：

波长范围：190-1100nm 

波长准确度：±0.3nm

波长重复性：0.1nm

光谱带宽：1.8nm

透射比准确度：±0.3%T

透射比重复性：0.1%T

光度范围：-3~3A ，0-200%T，0~9999C

基线平直度：±0.001A/h

杂散光：0.05%T@220nm、360nm

稳定性：±0.001A/小时 @500nm

Rs232通讯：USB接口

打印机：选配

分析软件：支持

自动八联比色池：选配

光学系统：双光束比例监测

噪声水平：±0.001A/2min@500nm